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삼성전자, 하이브리드 본딩 검사장비 신규 도입
✅ 삼성전자, 하이브리드 본딩 검사장비 신규 도입
https://www.thelec.kr/news/articleView.html?idxno=54329
📌 美 온투이노베이션과 공동개발 중인 비파괴 검사 장비
초음파 및 엑스레이 기반 검사 기술 도입, 하이브리드 본딩 접합 면의 미세 결함 파악
고가 웨이퍼 및 HBM 손실 최소화
📌 장비 특성
광음향 계측 기반 레이저 초음파 기술 사용, 기존 광학 검사의 한계 극복
1조분의 1초(피코초) 초단 펄스 레이저로 내부 구조 확인
📌 국내 업체들, 2분기부터 도입
일부 업체, 삼성전자 본딩 웨이퍼 샘플로 성능 테스트 완료
HBM 실리콘관통전극(TSV) 및 하이브리드 본딩 접합면 검사도 고려
📌 차세대 HBM4E와 하이브리드 본딩 활용
삼성, 차세대 HBM4E 16단 이상부터 하이브리드 본딩 기술 적용 예상
웨이퍼투웨이퍼(W2W) 하이브리드 본딩 활용 D램 제조 논문 발표
📌 검사 장비 성능 시험 비교 예정
양산라인 품질 테스트 기간 약 6개월, 올해 말까지 다양한 업체의 검사 장비 성능 시험 진행 예정
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디일렉(THE ELEC)
삼성전자, 하이브리드 본딩 검사장비 신규 도입 - 디일렉(THE ELEC)
삼성전자가 하이브리드 본딩 신규 검사 장비를 도입하기 시작했다. 온투이노베이션의 검사 장비는 양산 라인에서 검증 중인 것으로 알려졌다.31일 업계에 따르면 삼성전
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